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| 各位老大：我有一個(gè)非常棘手的問題能否幫助解決一下： 我公司現(xiàn)有一款USB線材，一頭為USB-A公頭，另一頭為MINI－USB五PIN公頭，在電測搖擺時(shí)，MINI頭一邊的地線（鐵殼）之間總是出現(xiàn)電性能接觸不良的問題，機(jī)器顯示為OPEN，但是解剖后發(fā)現(xiàn)線頭焊接都很良好，鐵殼焊接未出現(xiàn)不良問題，我們也進(jìn)行了多次的改善，測試的公母頭都出自一家供應(yīng)商的料，匹配也應(yīng)該沒有問題呀，但測時(shí)，總是出現(xiàn)地線接觸不良，請大家分析一下，能有什么方法解決一下，多謝！ |
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我在做線材測試時(shí)也遇到過類似情況。我認(rèn)為首先還是要排除設(shè)備是否有故障？
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這個(gè)我們已檢查過了，測試機(jī)是沒有問題的。應(yīng)該還是在加工過程中。
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［chicheng 在 2009-4-28 12:38:04 編輯過］
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檢查母座是不是與改USB配套
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治具存在問題的可能性很大
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測試治具母座得按測試條數(shù)定數(shù)更換，比如測2000PCS或1500PCS換一個(gè)，如果你測一天了還是用那一套治具，還搖擺測試，當(dāng)然會(huì)出現(xiàn)瞬間的開路現(xiàn)象，就是INT（接觸性不良）了�。�！