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先把自己的理解發(fā)下，請大家?guī)兔Ψ治鱿隆?/P>
高頻信號傳輸由于集膚效應(yīng)在導(dǎo)體表面及絕緣介質(zhì)的接觸面?zhèn)鬏�，絕緣介質(zhì)有絕緣阻抗要求，基本不導(dǎo)電，當(dāng)存在絕緣缺陷時
高頻信號更容易逸出，導(dǎo)致ATT 串音 變差，同時會引起混合電容變化，IMP會跳動較厲害
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火花缺陷代表絕緣有壞點(diǎn)，電容會跳動，就象芯線扭到一樣，成品測試如果取到有火花缺陷的那一段，應(yīng)該會發(fā)現(xiàn)IMP RL測試有尖峰，以上是我個人理解，因?yàn)殡娋�廠，火花問題比較常見，想弄明白火花缺陷的危害，問題有點(diǎn)白，但還是請前輩看到的指點(diǎn)下，不勝感激啊
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此貼快沉了