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厚度和外形尺寸測量 - 無圖版

minqinquan --- 2008-05-31 14:32:27

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厚度和外形尺寸測量

1 絕緣厚度的測量

1.1 概述

絕緣厚度的測量可以作為一項(xiàng)單獨(dú)的試驗(yàn),也可以作為其它試驗(yàn)如機(jī)械性能試驗(yàn)過程中的一個(gè)步驟。

在所有情況下,取樣方法均應(yīng)符合有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。

1.2 測量裝置

讀數(shù)顯微鏡或放大倍數(shù)至少10倍的投影儀,兩種裝置讀數(shù)均至0.01mm。當(dāng)測量絕緣厚度小于0.5mm時(shí),則小數(shù)點(diǎn)后第三位數(shù)為估計(jì)讀數(shù)。

有爭議時(shí),應(yīng)采用讀數(shù)顯微鏡測量作為基準(zhǔn)方法。

1.3 試樣制備

從絕緣上去除所有護(hù)層,抽出導(dǎo)體和隔離層(若有的話)。小心操作以免損壞絕緣,內(nèi)外半導(dǎo)電層若與絕緣粘連在一起,則不必去掉。

每一試件由一絕緣薄片組成。應(yīng)用適當(dāng)?shù)墓ぞ撸ㄤh利的刀片如剃刀刀片等)沿著與導(dǎo)體軸線相垂直的平面切取薄片。

無護(hù)套扁平軟線的線芯不應(yīng)分開。

如果絕緣上有壓印標(biāo)記凹痕,則會使該處厚度變薄,因此試件應(yīng)取包含該標(biāo)記的一段。

1.4 測量步驟

將試件置于測量裝置的工作面上,切割面與光軸垂直。

a)當(dāng)試件內(nèi)側(cè)為圓形時(shí),應(yīng)按圖1徑向測量6點(diǎn)。如是扇形絕緣線芯,則按圖2測量6點(diǎn)。

b)當(dāng)絕緣是從絞合導(dǎo)體上截取時(shí),應(yīng)按圖3和圖4徑向測量6點(diǎn)。

c)當(dāng)試件外表面凹凸不平時(shí),應(yīng)按圖5測量6點(diǎn)。

d)當(dāng)絕緣內(nèi)外均有不可去除的屏蔽層時(shí),應(yīng)使用讀數(shù)顯微鏡測量。

e)無護(hù)套扁平軟線應(yīng)按圖6測量。兩導(dǎo)體之間最短距離的一半作為絕緣線芯的絕緣厚度。在任何情況下,第一次測量應(yīng)在絕緣最薄處進(jìn)行。

如果絕緣試件包括壓印標(biāo)記凹痕,則該處絕緣厚度不應(yīng)用計(jì)算平均厚度。但在任何情況下,壓印標(biāo)記凹痕處的絕緣厚度應(yīng)符合有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的最小值。

若規(guī)定的絕緣厚度為0.5mm及以上時(shí),讀數(shù)應(yīng)測量到小數(shù)點(diǎn)后兩位(以mm計(jì));若規(guī)定的絕緣厚度小于0.5mm時(shí),則讀數(shù)應(yīng)測量到小數(shù)點(diǎn)后三位。第三位為估計(jì)數(shù)。

1.5 測量結(jié)果的評定

測量結(jié)果應(yīng)按有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中試驗(yàn)要求的規(guī)定進(jìn)行評定。

進(jìn)行機(jī)械性能試驗(yàn)時(shí),每個(gè)試件厚度的平均值δ應(yīng)按該試件上測得的6個(gè)測量值計(jì)算。

2 非金屬護(hù)套厚度測量

2.1 概述

護(hù)套厚度的測量可以作為一項(xiàng)單獨(dú)的試驗(yàn),也可以作為其它試驗(yàn)如機(jī)械性能試驗(yàn)過程中的一個(gè)步驟,本試驗(yàn)方法也適用于其他有規(guī)定厚度的護(hù)套的測量,例如隔離套和外護(hù)套。

在所有情況下,取樣方法均應(yīng)符合有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。

2.2 測量裝置

(1.2條)。

2.3 試樣制備

去除護(hù)套內(nèi)外所有元件(若有的話),用一適當(dāng)?shù)墓ぞ撸ㄤh利的刀片如剃刀刀片等)沿垂直于電纜軸線的平面切取薄片。

如果護(hù)套上有壓印標(biāo)記凹痕,則會使該處厚度變薄,因此試件應(yīng)取包含該標(biāo)記的一段。

2.4 測量步驟

將試件置于測量裝置工作面上,切割面與光軸垂直。

a) 當(dāng)試件內(nèi)側(cè)為圓形時(shí),應(yīng)按圖1徑向測量6點(diǎn)。

b) 如果試件的內(nèi)圓表面實(shí)質(zhì)上是不規(guī)整或不光滑的,則應(yīng)按圖7在護(hù)套最薄處徑向測量6點(diǎn)。

c) 當(dāng)試件內(nèi)側(cè)有導(dǎo)體造成很深的凹槽時(shí),應(yīng)按圖8在每個(gè)凹槽底部徑向測量。當(dāng)凹槽數(shù)目超過6個(gè)時(shí),應(yīng)按b條進(jìn)行測量。

d) 當(dāng)因刮膠帶或肋條形護(hù)套外形引起的護(hù)套外表面不規(guī)整時(shí),應(yīng)按圖9進(jìn)行測量。

e) 對于有護(hù)套的扁平軟線,應(yīng)按圖10在與每個(gè)絕緣線芯截面的短軸大致平行的方向及長軸上分別測量。但無論如何應(yīng)在最薄處測量一點(diǎn)。

f) 六芯及以下有護(hù)套的扁平電纜應(yīng)按圖11進(jìn)行測量:

--在圓弧形兩頭沿著橫截面的長軸進(jìn)行測量;

--在扁平的兩邊,在第一根和最后一根絕緣線芯上測量;如果最薄厚度不在上述幾次測量值中,則應(yīng)增加最薄處及其對面方向上厚度的測量。

上述規(guī)定也適用于六芯以上扁平電纜護(hù)套厚度的測量,但應(yīng)增加中間絕緣線芯處或者當(dāng)絕緣線芯數(shù)為偶數(shù)時(shí)取中間兩個(gè)絕緣線芯之一進(jìn)行測量。

在任何情況下,必須有一次測量在護(hù)套最薄處進(jìn)行。

如果護(hù)套試樣包括壓印標(biāo)記凹痕,則該處厚度不應(yīng)用來計(jì)算平均厚度。但在任何情況下,壓印標(biāo)記凹痕處的護(hù)套厚度應(yīng)符合有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的最小值。

讀數(shù)應(yīng)到小數(shù)點(diǎn)后兩位(以mm計(jì))。

2.5 測量結(jié)果的評定

測量結(jié)果應(yīng)按有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中試驗(yàn)要求的規(guī)定進(jìn)行評定。

進(jìn)行機(jī)械性能試驗(yàn)時(shí),每個(gè)試件的厚度平均值δ應(yīng)按該試件上測得的所有測量值計(jì)算。

3 外形尺寸測量

3.1 概述

線芯絕緣外徑和護(hù)套外徑的測量可以作為一項(xiàng)單獨(dú)的試驗(yàn),亦可作為其它試驗(yàn)過程中的一個(gè)步驟。除非特殊試驗(yàn)程序規(guī)定了不同的或替代的方法,下面3.2條規(guī)定的通用的測量方法。

在所有情況下,取樣方法均應(yīng)符合有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。

3.2 測量步驟

a)軟線和電纜的外徑不超過25mm時(shí),用測微計(jì)、投影儀或類似的儀器在互相垂直的兩個(gè)方向上分別測量。

例行試驗(yàn)允許用刻度千分尺或游標(biāo)卡尺測量,測量時(shí)應(yīng)盡量減小接觸壓力。

b)軟線和電纜外徑超過25mm時(shí),應(yīng)用測量帶測量其圓周長,然后計(jì)算直徑。也可使用能直接讀數(shù)的測量帶測量。

c)扁平軟線和電纜應(yīng)使用測微計(jì)、投影儀或類似的儀器沿著橫截面的長軸和短軸進(jìn)行測量。除非有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中另有規(guī)定,尺寸為25mm及以下者,讀數(shù)應(yīng)到小數(shù)點(diǎn)后兩位(以mm計(jì));尺寸為25mm以上者,讀數(shù)應(yīng)到小數(shù)點(diǎn)后一位。

3.3 測量結(jié)果的評定

測量結(jié)果應(yīng)按有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中試驗(yàn)要求的規(guī)定進(jìn)行評定。
狼宇 --- 2009-07-27 22:46:15

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