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數(shù)字電纜測(cè)試中須具備的條件 - 無圖版

michael --- 2007-06-21 08:35:13

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數(shù)字電纜測(cè)試中須具備的條件

         數(shù)字電纜測(cè)試與早期市話電纜測(cè)試的不同要求。提出了完善的測(cè)試手段應(yīng)由先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備和優(yōu)秀的測(cè)試人員組成的觀點(diǎn)。并著重從測(cè)試設(shè)備及測(cè)試人員兩方面舉例分析了數(shù)字電纜測(cè)試中存在的一些問題。
       隨著市場(chǎng)對(duì)綜合布線用對(duì)稱數(shù)字電纜(以下簡(jiǎn)稱數(shù)字電纜)需求的日漸增高,許多光電纜生產(chǎn)廠家針對(duì)這一商機(jī)開始研制、生產(chǎn)該類電纜,以滿足市場(chǎng)的需求。同時(shí),生產(chǎn)廠家發(fā)現(xiàn),雖然數(shù)字電纜和早期的市話電纜都是雙絞線,但標(biāo)準(zhǔn)及實(shí)際使用中對(duì)數(shù)字電纜的要求遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于市話電纜。這是由于市話電纜僅用于較低頻率的電信號(hào)傳輸(一般不大于1MHz),而數(shù)字電纜傳輸?shù)氖歉咚贁?shù)字信號(hào),最高達(dá)到1200MHz,作為早期的5號(hào)纜也達(dá)到了100MHz。為了使數(shù)字電纜能夠勝任高頻數(shù)字信號(hào)的傳輸,標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了許多嚴(yán)格的參數(shù)。同時(shí),也增加了許多只有在高頻時(shí)才考慮的參數(shù)。這給生產(chǎn)設(shè)備,測(cè)試手段都提出了全新的要求。生產(chǎn)廠家往往將注意力集中在生產(chǎn)設(shè)備,而忽略建立一個(gè)完善的測(cè)試手段。或簡(jiǎn)單地認(rèn)為只要購進(jìn)一臺(tái)先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備,就可以完成電纜的測(cè)試。這往往產(chǎn)生電纜的實(shí)測(cè)結(jié)果與電纜實(shí)際性能不符合。應(yīng)該指出,一個(gè)完善的測(cè)試手段應(yīng)包含先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備及優(yōu)秀的測(cè)試人員。只有具備上述兩個(gè)條件,才能很好地完成數(shù)字電纜的測(cè)試工作。

一、 測(cè)試設(shè)備
國(guó)際上用于數(shù)字電纜測(cè)試的儀器,根據(jù)其測(cè)試原理可以分為兩大類。第一種方法為時(shí)域反射法。時(shí)域反射法是將一窄脈沖注入電纜的一端,同時(shí),在注入端探測(cè)反射信號(hào)。然后,對(duì)反射信號(hào)進(jìn)行數(shù)字化,并對(duì)這些量化的信息進(jìn)行包括傅立葉變換在內(nèi)的各種數(shù)據(jù)處理,最終求出電纜性能值。其原理與OTDR非常類似。由于窄脈沖在頻域內(nèi)體現(xiàn)的是一寬頻譜電信號(hào),當(dāng)這一"復(fù)合信號(hào)"在電纜內(nèi)傳輸時(shí),電纜的不均勻點(diǎn)將引起反射,反射的信號(hào)返回注入端,探測(cè)器在注入端探測(cè)電信號(hào)。因此,從電信號(hào)的注入到信號(hào)的接收,電信號(hào)經(jīng)過了兩個(gè)電纜長(zhǎng)度的衰減。致使頻率高的信號(hào)經(jīng)兩次衰減后,信號(hào)變得很小。這直接影響到測(cè)試儀器的動(dòng)態(tài)范圍及精度。同時(shí),也存在多次反射信號(hào)給接收機(jī)造成的信號(hào)"混淆",可能進(jìn)一步降低測(cè)試精度。但基于這個(gè)原理制造的成品儀器,體積可以做得很小,易于攜帶,成本低。特別適合于工程布線及半成品的檢測(cè)。但用于電纜的成品檢測(cè)時(shí),很難滿足精度要求。
第二種方法為標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的頻域掃描法。一般以矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀作為核心部件,或以分立的掃頻信號(hào)源,接受器作為核心部件;以巴倫作為平衡器件,對(duì)測(cè)試端口進(jìn)行阻抗匹配。這種方法是標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的基準(zhǔn)方法。我們將討論基于這種方法制造的不同的測(cè)試設(shè)備,對(duì)測(cè)試結(jié)果有何影響。
人們?cè)谶x擇該類數(shù)字電纜測(cè)試設(shè)備時(shí),往往忽略了對(duì)測(cè)試設(shè)備性能指標(biāo)的考核。而測(cè)試設(shè)備的某些指標(biāo),將直接關(guān)系到測(cè)試結(jié)果的正確與否。
限于篇幅,我們僅以系統(tǒng)噪聲本底為例討論上述觀點(diǎn)。系統(tǒng)噪聲本底(System Noise Floor)決定系統(tǒng)可接收的最小電信號(hào)電平,也決定了系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)范圍。
在數(shù)字電纜測(cè)試設(shè)備中,系統(tǒng)噪聲主要來源于系統(tǒng)內(nèi)部串音。又可分為同端鄰近端口噪聲本底和近遠(yuǎn)端噪聲本底。同端鄰近端口噪聲本底(Next Noise Floor)用以衡量近端(或遠(yuǎn)端)的鄰近端口噪聲水平;近遠(yuǎn)端噪聲本底衡量近端接線端口與遠(yuǎn)端接線端口之間的噪聲水平;前者將影響電線測(cè)試中的近端串音性能測(cè)試結(jié)果,后者將影響電纜測(cè)試中衰減、遠(yuǎn)端串音及由此計(jì)算得出的參數(shù)(如ELFEXT)的性能測(cè)試結(jié)果。
假設(shè)一臺(tái)測(cè)試設(shè)備具有如下的性能指標(biāo):
近遠(yuǎn)端噪聲本底: ≤ -60dB 1~300MHz
(ATT Noise Floor)
同端鄰近端口噪聲本底: ≤ -60dB 1~300MHz
(NEXT Noise Floor)
我們現(xiàn)以IEC61156-5標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的參數(shù),推算對(duì)測(cè)試設(shè)備的噪聲本底的最低要求,并與上面假設(shè)的儀器具有的性能進(jìn)行比較。當(dāng)下表中給出的數(shù)據(jù)絕對(duì)值大于60dB時(shí),(標(biāo)有"="的數(shù)據(jù))測(cè)試結(jié)果可能出錯(cuò)。絕對(duì)值接近60dB的數(shù)據(jù)(標(biāo)有"*"),測(cè)試結(jié)果可信度不高。應(yīng)該指出的是,測(cè)試值與噪聲本底應(yīng)有一定的裕度,這里給出3dB的裕度要求。
A. 電纜長(zhǎng)度為100m,305m的CAT5e、CAT6數(shù)字電纜衰減測(cè)試與 Noise Floor的關(guān)系。

michael --- 2007-06-21 08:36:02

2

衰減測(cè)試時(shí)對(duì)系統(tǒng)噪聲本底最低要求 (dB)
頻率(MHz) 長(zhǎng)度100m 長(zhǎng)度305m
CAT5e CAT6 CAT5 CAT6
1 5.1 5.1 9.3 9.3
4 7.1 6.8 15.3 14.4
10 9.5 9.0 22.5 21
16 11.3 10.6 27.9 25.8
20 12.3 11.5 30.9 28.5
31.25 14.7 13.5 38.1 35.4
62.5 20.0 18.5 54* 49.5
100 25.0 22.5 69 62.7
125 27.9 32.2 77.7 70.5
200 36.0 90.6
250 102
可以發(fā)現(xiàn),這樣一套系統(tǒng)在測(cè)試100m電纜的衰減性能時(shí),測(cè)試數(shù)據(jù)是可信的。但在測(cè)試長(zhǎng)電纜時(shí),在較高頻率處,數(shù)據(jù)是錯(cuò)誤的。顯而易見,ATT Floor Noise 將影響電纜的測(cè)試長(zhǎng)度。其實(shí),該系統(tǒng)能夠測(cè)試的最大長(zhǎng)度,可以根據(jù)簡(jiǎn)單的數(shù)學(xué)公式得出,CAT5e為(57/25)m,CAT6為(57/33)m。所幸的是,電纜的衰減趨勢(shì)是遵循一定規(guī)律的。因此,對(duì)于大長(zhǎng)度的電纜的較高頻率點(diǎn)的衰減,可以對(duì)較低頻點(diǎn)的衰減值準(zhǔn)確測(cè)試后,通過公式進(jìn)行擬合,仍然能夠滿足一定的測(cè)試精度。
B. 電纜長(zhǎng)度為100m的CAT5、CAT6測(cè)試與NEXT Noise Floor的關(guān)系。
NEXT測(cè)試時(shí)對(duì)系統(tǒng)噪聲本底要求 (dB)
頻率(MHz) CAT5e CAT6
標(biāo)準(zhǔn)要求 標(biāo)準(zhǔn)要求
1 68 78
4 59* 72
10 53 63
16 50 60
20 49 59*
31.25 46 56
62.5 41 51
100 38 48
125 37 47
200 44
250 42
可見,測(cè)試設(shè)備的NEXT Floor Noise將影響電纜的近端串音的測(cè)試。由于電纜的串音不像衰減那樣,電纜的串音是不可預(yù)測(cè)的。因此,該測(cè)試結(jié)果將是錯(cuò)誤的結(jié)論。另外,值得注意的是,無論你的電纜串音性能做的如何好,但最終結(jié)果都將≤60dB。結(jié)果顯示,電纜的串音指標(biāo)與標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的數(shù)值之間的裕度小的讓人擔(dān)心。你也無法知道電纜的真實(shí)的串音的性能。長(zhǎng)度的增加,更將使測(cè)試結(jié)果不可信。
C. 計(jì)算值ELFEXT與Floor Noise的關(guān)系
我們知道ELFEXT=IOFEXT-α,而我們實(shí)測(cè)的是IOFEXT, (α是電纜的衰減),所以有IOFEXT=ELFEXT+α
IOFEXT測(cè)試時(shí),對(duì)系統(tǒng)噪聲本底最低要求 (dB)
頻率(MHz) CAT5 CAT6
1 69.1 73.8
4 58.1* 62.8
10 53.5 57*
16 51.3 54.6
20 50.3 53.5
31.25 48.0 51.8
62.5 48.0 50.5
100 49.0 50.9
125 49.9 51.5
200 54.2
250 56*
這樣,在某些頻域區(qū)域內(nèi)將產(chǎn)生錯(cuò)誤數(shù)據(jù),而最終給出錯(cuò)誤結(jié)論。從表中看出測(cè)試CAT6時(shí),系統(tǒng)基本無裕度可言。值得一提的是,長(zhǎng)度的增加也將使測(cè)試結(jié)果進(jìn)一步惡化。
應(yīng)該注意到,表中給出的是符合標(biāo)準(zhǔn)的電纜的最差情況。對(duì)于設(shè)計(jì)優(yōu)秀的數(shù)字電纜,最終測(cè)試結(jié)果都將表明電纜的性能一般,甚至,誤判為不合格。這里僅舉了測(cè)試儀器的Noise Floor對(duì)測(cè)試結(jié)果可能產(chǎn)生影響的例子。實(shí)際上,上述因素僅僅是眾多因素其中之一。
因此,在選擇數(shù)字電纜測(cè)試設(shè)備時(shí),除了關(guān)心其工作原理是否合乎標(biāo)準(zhǔn)外,也得關(guān)心測(cè)試設(shè)備的性能指標(biāo),是否滿足數(shù)字電纜的測(cè)試。
-- 結(jié)束 --